Государственный региональный центр стандартизации, метрологии и испытаний в Омской области
18
Омское время
  
Личный кабинет

Метрологи Омского ЦСМ приняли участие в семинаре по термометрии на НПП «Эталон»

Метрологи Омского ЦСМ приняли участие в семинаре по термометрии на НПП «Эталон»

Ежегодный семинар-совещание собрал метрологов со всех уголков страны на Научно-производственном предприятии «Эталон» в семнадцатый раз. Он был посвящен проблемам разработки и использования эталонных и рабочих средств измерения температуры, теплопроводности и тепловых потоков. Большой раздел семинара отводился докладам по термометрии для геотехнического мониторинга грунтов.

Обсуждались вопросы фундаментальной метрологии: оценка точности в высокотемпературной термометрии в соответствии с новым определением кельвина (ведущий научный сотрудник отдела термодинамики ВНИИМ имени Д.И. Менделеева Михаил Матвеев) и совершенствование государственного первичного специального эталона единиц удельной энтальпии и удельной теплоемкости твердых тел в диапазоне температуры от 700 до 1800 К ГЭТ 67-2013 (ст.научный сотрудник, ученый хранитель ГЭТ 67-2013 ФГУП «УНИИМ» Андрей Непомилуев).

С сообщениями, освещающими разные стороны прикладной термометрии и знакомящими с разработками НПП «Эталон», выступили омские метрологи и их коллеги из вузов и НИИ.

Специалисты в области термометрии ФБУ «Омский ЦСМ» — постоянные участники семинара-совещания, проводимого НПП «Эталон». Это дает возможность нашим метрологам быть в курсе последних тенденций в области высокоточных температурных измерений и эффективно поддерживать деловые связи с коллегами.

С докладом «Изменение законодательства в области обеспечения единства измерений (Порядок проведения поверки. Новые поверочные схемы)» выступил начальник отдела метрологического обеспечения и перспективного развития Омского ЦСМ Алексей Попов.

Общение участников семинара-совещания продолжится завтра, 20 марта, на площадке Сибирского промышленно-инновационного форума «Промтехэкспо – 2019», в рамках которого пройдет семинар «Современные тенденции развития метрологии и сертификации».